差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。作为一种可控程序温度下的热效应的经典热分析方法，在当今各类材料与化学领域的研究开发、工艺优化、质检质控与失效分析等各种场合早已得到了广泛的应用。
 

　　在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
 

　　差热分析仪特点：
 

　　1、仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更。
 

　　2、采用USB双向通讯，操作更便捷。
 

　　3、采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好。
 

　　4、采用镍铬合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。